En el Laboratorio de Nanociencia y Nanotecnología de la Universidad Pontificia Bolivariana se observan y analizan muestras en un microscopio de barrido, obteniendo información morfológica, topográfica y estructural de las mismas, con base en sus campos de acción: química, materiales, física, medicina, biomédica, electrónica, informática, ingeniería, entre otros. Además, está al servicio de estudiantes, docentes e investigadores de diversas instituciones e industria en general.
Nuestras líneas de trabajo
Análisis SEM
Imágenes de alta definición, hasta de 1´000.000 de aumento y en escalas de hasta 1 nanómetro. Hasta 30.000 Volts de aceleración.
Uso de detectores: Secundarios, Retrodispersados, Secundarios InBeam, LVSTD.
Este servicio se puede prestar de manera remota por internet.
Preparación de muestras
Consiste en secar, cortar y metalizar aquellas muestras que requieran ser analizadas en el microscopio electrónico.
Desecado de punto crítico (preparación de muestras): extracción de la humedad de las muestras. Estas son sumergidas en alcohol en diferentes porcentajes de pureza, para luego ser reemplazado por CO2 líquido, el cual obtiene su punto de ebullición a condiciones relativamente fáciles de obtener y que no afectan la muestra (1.000 psi y 30°C).
Corte de muestras: por medio del micrótomo.
Recubrimiento (preparación de muestras): recubrimiento con una capa delgada de material conductor (oro, paladio, plata o carbono) a muestras que no son conductoras, por medio de bombardeo iónico. Este procedimiento es necesario cuando las muestras que no son conductoras requieren ser observadas en microscopios electrónicos.
Análisis de muestras
Tiene como objetivo observar zonas específicas de la muestra y capturar imágenes para observar su morfología y topografía; también puede ser requerido un análisis químico elemental o incluso mapeos.
Análisis SEM: imágenes de alta definición hasta de 1´000.000 de aumentos y en escalas de hasta 1 nanómetro; Hasta 30.000 Volts de aceleración. Uso de detectores: Secundarios, Retrodispersados, Secundarios InBeam, LVSTD (para bajo vacío). ( Este servicio tiene la particularidad que se puede prestar de manera remota por internet).
Análisis microscopio metalográfico: análisis de muestras con aumentos que varían entre 50 y 2000 aumentos, especialidad para metales y aleaciones.
Análisis EDX: obtención de la composición química de la superficie de las muestras a través de un detector especial de electrones de rayos X por EDS, logrando obtener espectros y hacer cuantificación, mapeos e hipermapeos, entre otros.
Capacitaciones
Clases teórico-prácticas en temas relacionados con microscopía electrónica de barrido.
Nuestros espacios y equipos
Microscopio metalográfico
Microscopio utilizado en análisis de metales marca ZEISS modelo AXIO.
Micrótomo
Permite obtener rebanadas muy finas de material, conocidas como secciones. Marca HMT. Foto tomada de: www.abatec.com.mx.
Detector EDX
marca BRUKER que permite obtener la composición química de la superficie de las muestras.
Microscopio electrónico de barrido
Microscopio de última generación marca Tescan que permite obtener imágenes de alta definición hasta 1´000.000 X (o aumentos).
Recubrimiento sputtering
Equipo de recubrimiento marca CRESSINGTON.
Desecador de punto crítico
Equipo desecador de punto crítico marca WISD.
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